1. د نظری میټالوګرافیک مایکروسکوپ او اټومي ځواک مایکروسکوپ مربوط ډیزاین، ځواکمن دندې
2. دا دواړه نظری مایکروسکوپ او د اټومي ځواک مایکروسکوپ امیجنگ دندې لري، چې دواړه کولی شي په یو بل باندې تاثیر کولو پرته په ورته وخت کې کار وکړي.
3. په ورته وخت کې، دا د نظری دوه اړخیز اندازه کولو او د اټومي ځواک مایکروسکوپ درې اړخیز اندازه کولو دندې لري
4. د لیزر کشف سر او د نمونې سکین کولو مرحله مدغم شوي ، جوړښت خورا مستحکم دی ، او د مداخلې ضد قوي دی
5. د دقیق تحقیقاتو موقعیت وسیلې، د لیزر ځای ځای تنظیم کول خورا اسانه دي
6. د واحد محور ډرایو نمونه په اوتومات ډول تفتیش ته په عمودي توګه نږدې کیږي ، ترڅو د ستنې سر د نمونې سره په عمودي توګه سکین شي
7. د موټرو کنټرول شوي فشار شوي پیزو الیکټریک سیرامیک اتوماتیک کشف د هوښیار ستنې تغذیه کولو میتود تحقیقات او نمونه ساتي
8. د الټرا - لوړ میګنیفیکیشن نظری موقعیت سیسټم ترڅو د تحقیقاتو او نمونې سکین کولو ساحې دقیق موقعیت ترلاسه کړي
9. مدغم سکینر غیر خطي سمون کارونکي مدیر، د نانومیټر ځانګړتیا او اندازه کولو دقت له 98٪ څخه ښه
مشخصات:
| عملیاتي حالت | د ټچ حالت، د ټچ حالت |
| اختیاري حالت | رقابت/وروستي قوه، طول/پړاو، مقناطیسي/برقی قوه |
| د ځواک طیف وکر | د FZ ځواک وکر، RMS-Z وکر |
| د XY سکین لړۍ | 50*50um، اختیاري 20*20um، 100*100um |
| د Z سکین حد | 5um، اختیاري 2um، 10um |
| د سکین ریزولوشن | افقی 0.2nm، عمودی 0.05nm |
| د نمونې اندازه | Φ≤68mm، H≤20mm |
| د سفر نمونه مرحله | 25*25mm |
| بصری سترګې | 10X |
| نظری هدف | 5X/10X/20X/50X پلان اپوکروماتیک اهداف |
| د رڼا کولو طریقه | د LE Kohler د رڼا کولو سیسټم |
| نظری تمرکز | سخت لاسي تمرکز |
| کیمره | د 5MP CMOS سینسر |
| ښودنه | د ګراف اړوند اندازه کولو فعالیت سره د 10.1 انچ فلیټ پینل ښودنه |
| د سکین سرعت | 0.6Hz-30Hz |
| د سکین زاویه | 0-360° |
| عملیاتي چاپیریال | وینډوز XP/7/8/10 عملیاتي سیسټم |
| د مخابراتو انٹرفیس | USB2.0/3.0 |
